• قیمت : لطفا جهت اطلاع با شرکت تماس گرفته شود
توضیحات کامل

TESCAN S8000G یک سیستم FIB-SEM است که تمامی نیازهای تحقیقات امروزی چه در زمینه صنعتی و چه در دانشگاه ها را برآورده میکند. این دستگاه توانایی ارائه تصاویر خارق العاده با کنتراست عالی برای تجزیه و تحلیل نانومتری را داراست و میتواند وظایف پیچیده مهندسی نانو را به سادگی و دقت تمام انجام دهد. نرم افزار های این دستگاه کنترل کاملی بر تمامی کارها به صورت کاملا آسان در عین تلکنولوژی پیشرفته را تضمین میکنند. این دستگاه برای کاربرانی است که هر روز به دنبال درک بهتر و پیشرفت در علم و تلکنولوژی با بهره گیری از بالاترین کیفیت تحلیل هستند بهترین است. 

 

ویژگی های کلیدی:

- استفاده از ستون جدید و اختصاصی Bright Beam میکروسکوپ که با لنز شیئی الکترواستاتیکی-مغناطیسی زاویه 70 درجه میسازد برای حداکثر شدن کارایی.

- تصویربرداری با وضوح فوق العاده بالا برای حداکثر کردن قابلیت تصویربرداری و تجزیه و تحلیل تمامی نمونه ها از جمله نمونه های مغناطیسی و تصویر برداری زنده الکترونی در حین پرتو دهی یونی.

- سیستم آشکارساز جدید از جمله آشکارساز محوری In-Beam و چندگانه TriSE و TriBE برای انتخاب الکترون ها با زوایا و انرژی های مختلف که باعث افزایش حساسیت به سطح شده و کنترل کاملی بر مشخصات سطحی را فراهم میکند و میتواند شرایط بررسی سطح در کنتراست های مختلف را برای بررسی عمیق تر و دقیق تر محیا کند.

- تفنگ الکترونی جدید Field Emission Schottky electron gun امکان ایجاد جریان تا 400 نانوآمپر و ایجاد تغییرات سریع انرژی پرتو را فراهم میکند.

- استفاده از فن آوری لنز EquiPower اتلاف حرارتی را کنترل کرده در نتیجه ثبات بالایی در ستون الکترونی حاصل میشود.

- استفاده از ستون جدید Orage Ga FIB برای ایجاد پرتوهای یونی با وضوح فوق العاده و عملکرد عالی در تمامی طیف جریان یونی و طیف انرژی تا حداقل 500eV. (وضوح در حد 2.5 نانومتر در 30keV)

- عالی ترین کیفیت در سطح جهانی برای آماده سازی نمونه ها و عملکرد عالی در انرژی کم برای تهیه نمونه های بسیار نازک و عاری از اشکال TEM. 

- جریان یونی بالا تا حد 100nA نانو آمپر و استفاده از تکنینک خاص SmartMill برای لایه برداری سریع و حجیم و همچنین مقطع زنی کامل در نصف زمان ممکن.

- بررسی سریع سطحی در ابعاد نانو توسط پرتو یونی برای فراهم کردن اطلاعات منحصر به فرد ساختاری از نمونه.

- سیستم جدید تزریق تک گاز OptiGIS با سرعت تزریق بالا و پایداری عالی برای رسوب دهی و اچ کردن. 

 

 

 

میکروسکوپ روبشی

EDX

آزمایشگاه SEM

مشخصات فنی محصول

ابعاد مدل GM

ابعاد داخلی 340mm × 315mm
W × D
ابعاد در 340mm × 320mm
W × H
تعداد پورت ها 20
نوع نگهدارنده اتوماتیک
چرخش (Rotation) 360 درجه
شیب (Tilt) 90+ تا 60-

مشخصات سیستم الکترونی

تفنگ الکترونی High Brightness Schottky Emitter
Prob Current 2pA تا 400nA
Beam Energy 200eV تا 30keV
امکان کاهش تا 50eV

مشخصات سیستم یونی

ستون یونی Orage High Resolution Ga FIB Column
تفنگ یونی Ga Liquid Metal ion Source
Prob Current 1pA تا 100nA
SEM-FIB زاویه 55 درجه
رزولوشن کمتر از 2.5 نانومتر در 30keV
نظر

  نظرات کاربران (0 نظر)

شما هم می توانید در مورد این مطلب نظر دهید نظر خود را بنویسید
امتیاز شما به این مطلب: